日本 JEOL JEM-2100PLUS
 1. Accelerating voltage: 80 – 200 kV 
 2. Lamp silk: LaB6 
 3. Resolving power: point image 0.27 nm 
 4. Magnification: 1,000 – 1,000,000 
 5. Image capture: CCD-Camera(Gatan OneView)
 6. EDS (OXFORD X-MAX )
 7. Shot Meister application 拍照優化軟體(JEOL JEM-2100PLUS )

 JEOL JEM-2100PLUS 
費用項目                                                           單價(校內)     / 單價(校外,無合作計劃)
使用元素分析費或冷凍電顯功能                 1500元 (小時) / 暫不開放
未使用元素分析費或冷凍電顯功能             1200元 (小時) / 暫不開放

檢體製備要求：
1.樣品請置於直徑3 mm之銅網上
2.為維持真空度，樣品不得有在電子束照射下會分解、釋放氣體或成為液體之特性。
3.為避免造成損壞，本儀器拒絕受理具強磁性、磁性(如鐵、鈷、鎳等)或易被電磁透鏡吸引的粉末型式樣品或材料。
4.為避免造成損壞，本儀器拒絕受理含有毒性、腐蝕性、揮發性、低熔點之樣品。
5.為避免儀器電腦中毒，請使用光碟燒錄電子檔。